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第6回、第7回 半導体テスト技術者検定【3級】【2級】

半導体テスト技術者検定受験申し込み
検定名 半導体テスト技術者検定 3級
半導体テスト技術者検定 2級「設計と製造」
半導体テスト技術者検定 2級「応用と品質」
半導体テスト技術者検定 2級「パワーデバイス」
実施日程 第6回:6月1日(金)~6月13日(水)
第7回:11月9日(金)~11月21日(水)
申込期間 第6回:4月18日(水)~6月10日(日)
第7回:11月1日(月)~11月18日(日)
試験会場 全国約200カ所
CBT(Computer Based Testing)方式で実施予定
(受験生が全国47都道府県、全国約200カ所のテストセンターの中から、都合の良い受験地、日時を予約し、テストセンターにてPCの画面に提示された問題に解答することで検定を受験する方式。)
受験資格 半導体デバイスに興味のある方ならどなたでも受験可能です。
年齢、経験等の制限はありません。
受験料 3級
一般:¥9,720 (税込)
学生:¥6,480 (税込)
パワーデバイス・イネーブリング協会会員企業の社員:¥6,480(税込)
2級
一般:¥12,960 (税込)
学生:¥9,720 (税込)
パワーデバイス・イネーブリング協会会員企業の社員:¥9,720(税込)
試験概要 CBT方式、4者択一方式
問題数/試験時間 3級:45問 / 90分
2級:45問 / 90分
結果発表 検定結果通知は、検定実施最終日から1ヶ月を目処に送付いたします。
資格の認定 合格者には、合格認定証を送付いたします。
試験内容

3級

半導体の基礎および試験工程を主体とした内容
公式テキスト「はかる×わかる半導体【入門編】」より出題

[出題範囲]

半導体の基礎:
半導体物性、トランジスタの構造と動作原理、デバイス製造プロセスと検査、半導体集積回路

半導体の品質保証:
品質保証、信頼性基礎技術、品質管理手法、故障メカニズム、信頼性試験

半導体製品の分類:
デバイスタイプ、ロジックデバイス、メモリデバイス、RFデバイス、インタフェース・デバイス、イメージャ、A/D, D/A 変換デバイス、SoCデバイス、2.5D/3Dデバイス、パワーデバイス

半導体の試験項目:
半導体試験装置(ATE)によるデバイス試験の概要、ファンクション試験、DC 試験、AC パラメトリック試験、その他の試験項目、メモリデバイスの試験項目、その他のデバイスの試験項目、大規模SoC の試験

2級 設計と製造

半導体の設計および製造の業務分野におけるより専門的な知識経験を問う問題

[出題範囲]

半導体(パワー系半導体を含まない)の専門知識を要するコア問題は、設計、製造、テスト、品質保証、信頼性の業務に関する中から出題。
パワー系半導体を含む半導体一般知識を要するフリンジ問題は、設計、製造、アプリケーション、テスト、品質保証、信頼性の業務に関する中から出題。
詳細な内容は下記出題キーワードのリンクを辿って下さい。

設計と製造の出題キーワード集

2級 パワーデバイス

パワー系半導体の設計、製造、パワー系 半導体を利用した機 器設計、アプリ開発、 販売、品質保証の業務分野におけるより専門的な知識経験を問う問題

[出題範囲]

パワー系半導体の専門知識を要するコア問題は、設計、製造、テスト、アプリケーション、品質保証、信頼性の業務に関する中から出題。
パワー系半導体を含む半導体一般知識を要するフリンジ問題は、設計、製造、アプリ、テスト、品質保証、信頼性の業務に関する中から出題。
詳細な内容は下記出題キーワードのリンクを辿って下さい。

パワーデバイスの出題キーワード集

2級 応用と品質

半導体を使用した機器の設計、アプリケーション開発、半導体の販売、 品質保証の業務分野におけるより専門的な知識経験を問う問題

[出題範囲]

半導体(パワー系半導体を含まない)の専門知識を要するコア問題は、テスト、アプリケーション、品質保証、信頼性の業務に関する中から出題。
パワー系半導体を含む半導体一般知識を要するフリンジ問題は、設計、製造、アプリ、テスト、品質保証、信頼性の業務に関する中から出題。
詳細な内容は下記出題キーワードのリンクを辿って下さい。

応用と品質の出題キーワード集

学習の手引き 3級
公式テキスト、問題集は、 一般社団法人パワーデバイス・イネーブリング協会の公式サイト でご確認ください。
PDEA掲載のサンプル問題はこちら
2級

半導体テスト技術者検定2級は幅広いより専門的な知識を理解している事が問われます。
このため、当協会では参考書籍による学習に加え、出題範囲となるキーワードに関する学習およびサンプル問題による学習を推奨しています。

半導体テスト技術者検定2級の参考書籍は以下のリンクを辿って確認して下さい。
半導体テスト技術者検定2級参考書籍

出題キーワードおよびサンプル問題に関しては、以下に示す各カテゴリのリンクを辿って確認して下さい。
・出題キーワードは説明とキーワードに関するサンプル問題がリンクされています。
・サンプル問題は、当協会のサイトに掲載している問題と日経テクノロジーonlineのサイトに掲載している問題があります。
 ※日経テクノロジーonlineのサイトをご覧になる場合には日経IDが必要となります。

2級 設計と製造
出題キーワード集(キーワードに説明およびサンプル問題がリンクされています)
サンプル問題(当協会サイト)
サンプル問題(日経 xTECHのサイト)
2級 パワーデバイス
出題キーワード集(キーワードに説明およびサンプル問題がリンクされています)
サンプル問題(当協会サイト)
サンプル問題(日経 xTECHのサイト)
2級 応用と品質
出題キーワード集(キーワードに説明およびサンプル問題がリンクされています)
サンプル問題(当協会サイト)
サンプル問題(日経 xTECHのサイト)
検定対策セミナ 2級 検定対策セミナの実施を予定しています。
主催 一般社団法人パワーデバイス・イネーブリング協会
協賛 株式会社アドバンテスト
東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター(VDEC)
一般社団法人 日本半導体製造装置協会(SEAJ)
ナノテスティング学会(予定)
後援 九州半導体・エレクトロニクスイノベーション協議(SIIQ)
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