PDEA:一般社団法人 パワーデバイス・イネーブリング協会

一般社団法人 パワーデバイス・イネーブリング協会

2級参考文献

主要図書(半導体テスト技術者検定 2級)

SoC/3D/Logic/Memory デバイス関連

  1. 牧野博之,益子洋治,山本秀和著,半導体LSI技術 (未来へつなぐ デジタルシリーズ 7),共立出版,2012
  2. 菊地正典著, 半導体工場のすべて, ダイヤモンド社, 2012
  3. 電子情報通信学会,知識ベース 10群 集積回路 1編 基本構成と設計技術

Analog/Imager/Interface/ADDA/RF デバイス関連

  1. STARC教育推進室監修, 浅田邦博・松澤昭共編, アナログRF CMOS集積回路設計[応用編], 培風館, 2011年
  2. 市川裕一, はじめての高周波測定, CQ出版社, 2010年
  3. ホール&ヘック, 須藤俊夫監訳, 高速デジタル回路設計, 2012年, 丸善出版
  4. アナログCMOS集積回路の設計, Design of Analog CMOS Integrated Circuits (英語) Behzad Razavi (著)
    ※日本語訳があります(2分冊)

品質保証、統計、信頼性関連

  1. RENESAS 信頼性ハンドブック
  2. LSI故障解析技術
  3. 電子情報通信学会、知識ベース6群7編ディペンダブルコンピューティング3章-9故障解析/故障診断
  4. ISO26262 実践ガイドブック 入門編 日経BP社
  5. ITRS2009/2011/2013和訳版 半導体技術ロードマップ専門委員会

パワーデバイス関連

  1. 山本秀和, 「パワーデバイス」, コロナ社, 2012年1月
  2. 大橋弘通・葛原正明 編著, 「パワーデバイス」半導体デバイスシリーズ4, 丸善出版(株), 2011年1月
  3. B. J. Baliga, "Fundamentals of Power Semiconductor Devices", Springer Science + Business Media LLC, 2008
  4. 落合政司, 「スイッチング電源の原理と設計」, オーム社, 2015年3月
  5. 松田順一, 「パワー・ダイオードの特性(rev.1)」, 2016年11月
  6. 松田順一, 「パワーMOSFETの基礎」, 2016年6月
  7. 松田順一, 「IGBTの伝導とスイッチング特性」, 2016年12月

参考文献・図書(半導体テスト技術者検定 2級)

SoC/3D/Logic/Memory デバイス関連

  1. 久保脩治著, 超LSIの展開-その技術と産業, オーム社, 1996
  2. 鈴木五郎著, システムLSI設計入門, コロナ社, 2003
  3. 藤原秀雄著, ディジタルシステムの設計とテスト, 工学図書, 2004
  4. 黒木幸令著, 学びやすい集積回路工学, 昭晃堂, 2005
  5. 小谷教彦, 西村正著, LSI工学 システムLSIの設計と製造, 森北出版, 2005
  6. 笹尾 勤: 論理設計-スイッチング回路理論, 近代科学社, 2005
  7. 藤田昌宏著, システムLSI設計工学, オーム社, 2006
  8. 岩田穆著, VLSI工学-基礎・設計編-(電子情報通信レクチャーシリーズ D-17), コロナ社, 2006
  9. 松瀬秀作, 石田光也, 田中正浩著, SoC開発講座, 丸善, 2006
  10. 二川清著, LSI故障解析技術のすべて―開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー, 工業調査会, 2007
  11. 中林正和, 江口啓, 葉山清輝, 大山英典著, MOS集積回路の設計・製造と信頼性技術, 森北出版, 2008
  12. LSIテスティング学会編, LSIテスティングハンドブック, オーム社, 2008
  13. 石田誠著, 新インターユニバーシティ 集積回路, オーム社, 2011
  14. 名倉徹著, LSI設計常識講, 東京大学出版会, 2011
  15. 松本平八, 松本雅俊, 多田哲生, 益子洋治, 山田圀裕著, 品質・信頼性技術 (未来へつなぐ デジタルシリーズ 4), 共立出版, 2011
  16. 吉本雅彦著, 集積回路工学 (OHM大学テキスト), オーム社, 2013
  17. 宇佐美公良, 池田誠, 小林和淑監訳, ウェスト&ハリス CMOS VLSI 回路設計 基礎編, 丸善出版, 2014
  18. 宇佐美公良, 池田誠, 小林和淑監訳, ウェスト&ハリス CMOS VLSI 回路設計 応用編, 丸善出版, 2014
  19. Brandon Noia, Krishnendu Chakrabarty, Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs, Springer, 2014
  20. 浅田邦博著, 集積回路設計 (電子情報通信レクチャーシリーズ), コロナ社, 2015
  21. 寺井秀一, 福井正博著, LSI入門 動作原理から論理回路設計まで, 森北出版, 2016
  22. 安永守利著, 集積回路工学, 森北出版, 2016
  23. 平成15年度 半導体製造技術ロードマップに関する調査研究報告書:第6編 組立
  24. 電子情報通信学会,知識ベース 6 群 7 編-ディペンダブルコンピューティング
  25. シリコン・テスト・テクノロジーズ,テスト用語集

Analog/Imager/Interface/ADDA/RF デバイス関連

  1. A/D・D/A変換回路入門 単行本 2012/5/25, 相良 岩男
  2. A/D・D/A変換回路入門 単行本 2012/5/25, (著) 日刊工業新聞
  3. 西山高浩, 無線LAN/Wi-Fiの通信技術とモジュール活用, CQ出版, 2014年
  4. ケン・パーカー著, 亀山修一監訳, バウンダリスキャンハンドブック第3版, 青山社, 2012年
  5. 浅田邦博監修, はかる×わかる半導体, 日経BP, 2013年
  6. 集積回路工学〈1〉プロセス・デバイス技術編 (大学講義シリーズ)
  7. 集積回路工学〈2〉回路技術編 (大学講義シリーズ), 永田 穰 (著), 柳井 久義 (著)
  8. RF集積回路, RF Microelectronics (英語) ペーパーバック Behzad Razavi (著)
    ※日本語訳があります(2分冊)
  9. Data Converters (英語) ハードカバー 2007/1/29, Franco Maloberti
  10. Data Converters (英語) ハードカバー 2007/1/29, (著) Springer
  11. D. Gizopolos, Advances in Electric Testing, Springer, 2006.
  12. L. T. Wang, C. W. Wu, and X. Wen, VLSI Test Principle and Architectures, Morgan Kaufmann, 2006.
  13. Physics of Semiconductor Devices Simon M. Sze (著), Kwok K. Ng (著)

品質保証、統計、信頼性関連

  1. はかる×わかる半導体 入門編 日経BPコンサルティング
  2. はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級問題集 日経BPコンサルティング
  3. 半導体デバイスの信頼性技術 日科技連
  4. はじめてのデバイス評価技術 工業調査会
  5. 機能安全/機械安全規格の基礎とリスクアセスメント 日刊工業新聞社
  6. 組込み系技術者のための安全設計入門 電波新聞社
  7. STRJ WS資料 半導体技術ロードマップ専門委員会

パワーデバイス関連

  1. 富士電機(株), 「富士IGBTモジュールアプリケーションマニュアル」, 2016年10月
  2. 電気学会編, 電気専門用語集No3, 「半導体・集積回路」, コロナ社, 2000年10月
  3. LSIテスティング学会 (編集), 「LSIテスティングハンドブック」, オーム社, 2008年11月
  4. 細谷克也・他, 「QC検定受検テキスト1級」, 日科技連出版社, 2016年6月
  5. (社)電子情報技術産業協会, 半導体信頼性技術小委員会, 「JEITA EDR-4711信頼性認定ガイドライン」, 2016年2月
  6. (社)電子情報技術産業協会, 電源部品事業委員会, 「スイッチング電源の現状と動向2016」, 2016年4月
  7. サンケン電気(株), 「次世代パワー半導体GaN・SiCへの取り組み」, 2016年
  8. Panasonic(株), 「GaNパワーデバイス」, 2016年
  9. ルネサスエレクトロニクス(株), 「信頼性ハンドブック」, 2017年1月
  10. サンケン電気(株), 「品質・信頼性情報」, 2016年
  11. (株)東芝, 「信頼性情報」, 2016年
  12. (株)東芝, 「ブラシレスモータ」, 2016年

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